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超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測(cè)之顆粒圖像處理儀
發(fā)布日期：2017/07/10超細(xì)粉體檢測(cè)的方法已經(jīng)給大家介紹過超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測(cè)之激光衍射散射法(激光粒度分析儀)檢測(cè)方法和超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測(cè)之離心沉降法， 無錫成銘粉體設(shè)備有限公司給大家介紹第三種檢測(cè)方法顆粒圖像處理儀。
顆粒圖像處理儀式由光學(xué)顯微鏡、CCD攝像機(jī)、圖像捕捉卡和計(jì)算機(jī)組成。
性能特點(diǎn)：
1、除了可以檢測(cè)粒度之外還可以進(jìn)行一般的形貌特征分析。
2、所得測(cè)量結(jié)果直觀可靠，既可以直接測(cè)量粒度分布，又可以作為其他粒度儀器測(cè)試可靠性的評(píng)判參考儀器。
顆粒圖像處理儀主要的缺點(diǎn)為：
1、操作手續(xù)比較繁瑣，測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)，易受人為因素的影響。
2、取樣量較少，代表性不強(qiáng)，適合測(cè)試粒度分布范圍比較窄的樣品。
無錫成銘粉體設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)粉體混合、球磨設(shè)備，歡迎各地客戶到我公司實(shí)地考察選購(gòu)。